这是我司ICT测试T800F基本性能的介绍：
出错组件显示：显示电路板的图形并自动显示出错组件的位置。
超强调试方式：主要针对作进一步微调试程序，优化测试结果，可编改驱动电流，延迟及测试频率。
波型分析仪：直接观察测试波形，以便更改测试的延迟时间，无需盲目多次尝试。
电解电容反插检测：透过测量外壳的电压 或漏电电流可判断电容是否反插。
二极管测试：可区别功率、讯号和齐纳二极管。
晶体管三点测试: 可测hFE值。
场效应管（FET）测试：能测是否存在和短路。
光藕测试: 能测是否开路和短路。
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